超精密測定の分野では、ナノメトロ「NANOMETRO」の商標で平面度測定装置、超精密表面形状測定装置、超精密測定装置、ウェーハ平坦度検査装置、フラットネス検査装置などによるRoll-off解析(ロールオフ解析)厚さ、SORI、WARP、BOW、TTV、LTVの検査測定など、KURODAのナノメトロは超精密測定の様々な分野で活躍しています。
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KURODAのナノメトロは超精密測定の様々な分野で活躍しています。
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最先端技術のニーズに応える
測定物の種類、大きさ、測定範囲など用途に合わせたシステムを用意しました。
NANOMETRO Series INDEX

ナノメトロTTシリーズ ウェーハ用平坦度検査装置
ナノメトロTTシリーズ
表面形状・裏面形状、平坦度を
同時に検査
 ナノメトロ450TT
サンプル測定お受けいたします
ナノメトロ400FW
(株)スーパーシリコン研究所と共同開発

ナノメトロFシリーズ 超精密表面形状測定装置
ナノメトロシリーズ
ウェーハ、FPD用ガラス基板などの表面形状を高精度に測定
バキュームチャック方式により
450mmウェーハの平坦度測定を実現

ナノメトロFRシリーズ 円盤用表面形状測定装置
ナノメトロFRシリーズ
セラミックスプレートなどの平面度を高精度に測定


真直度測定装置
ナノメトロシリーズ
最大1500mmまでの真直度を測定

ナノメトロ300PT φ300mmウェーハ用表面形状検査装置
ナノメトロ300PT
成膜時の工程管理やチャック時の平坦度管理に

大型ガラス基板測定装置
ナノメトロFTTシリーズ
液晶用フォトマスク基板の表面形状、裏面形状、平坦度、厚さを測定