随着半导体，液晶加工设备向微细化，大型化方向发展，
对滚珠丝杠等的灰尘颗粒产生量基准的要求更加严格。
KURODA在专用的无尘室里进行收集数据，以满足对低发尘的要求。 |
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| 测试方法 |
在无尘间中设置无尘试验箱，把由步进马达，滚珠丝杠，轴承，直线导轨组成的单轴模组放入无尘实验室中。
在单轴模组的运动过程中，除滚珠丝杠之外轴承，直线导轨等元件也会因受到摩擦而产生尘埃。为了能够准确的测出滚珠丝杠的尘埃产生量，我们将除滚珠丝杠以外的元件（如轴承，直线导轨）用套子罩住，并用专用的吸尘设备将这部分灰尘吸出。
使滚珠丝杠以一定的速度做往返运动，从无尘试验间的下方吸取1立方英尺的空气，把其中直径大于0.13μm的尘埃颗粒按照颗粒直径的大小分类并使用粒子计数器进行测量。然后分析这些数据。此外，为了提高测量值的精确度，我们还采用了除静电设备。 |
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| 监测条件 |
| 旋转速度：12～1200rpm |
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| 监测环境 |
| 无尘间的清洁度：小于10CLASS |
| 试验间的清洁度：1CLASS左右 |
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| 滚珠丝杠规格 |
| 直径 |
20mm |
| 导程 |
20mm |
| 预压力 |
74N |
| 行程 |
250ｍｍ |
| C型油脂加注量 |
1cc
无追加补充 |
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